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c,d(tanδ)仅
多层陶瓷电容器的测量
bin测量
120Hz,1kHz
测量时间:2ms
RS-232C,GP-IB标准设备
3511-50 120Hz,1kHz
3532-50 42Hz〜5MHz
3504-40 120Hz,1kHz
3504-50 120Hz,1kHz
3504-60 120Hz,1kHz