阻抗分析仪HIOKI（日置电机）IM3570
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该单单元可实现LCR、DCR和扫描测量的连续高速测量。在LCR模式下，其测量速度高达1.5毫秒（1千赫兹）和0.5毫秒（100千赫兹），基本精度为±0.08%。它非常适合压电元件的谐振特性测试、功能性聚合物电容器的CD和低ESR测量，以及电感器（线圈和变压器）的DCR和LQ测量。在分析仪模式下，还可以进行频率扫描测量、电平扫描测量和时间间隔测量。
应用
部件号：IM3570
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