阻抗分析仪HIOKI（日置电机）IM3570、IM9000
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该单机可连续高速测量LCR、DCR和扫描测量。LCR模式下测量速度高达1.5毫秒（1千赫兹）和0.5毫秒（100千赫兹），基本精度为±0.08%。它是压电元件谐振特性测试、功能性聚合物电容器的CD和低ESR测量以及电感器（线圈和变压器）的DCR和LQ测量的理想选择。分析仪模式下可进行频率扫描测量、电平扫描测量和时间间隔测量。
应用
部件号：IM3570、IM9000
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