阻抗分析仪(含校准证书)HIOKI(日置电机)IM3570
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附带校准证书。
这台设备可连续高速测量LCR、DCR和进行扫描测量。在LCR模式下,其测量速度高达1.5ms (1kHz) 和0.5ms (100kHz)。此外,它还具有高精度测量功能,基本精度为±0.08%。该设备非常适合用于检测压电元件的谐振特性、测量功能性聚合物电容器的电容值(CD)和低等效串联电阻(ESR),以及测量电感器(线圈和变压器)的DCR和LQ值。在分析仪模式下,它可以进行频率扫描测量、电平扫描测量和时间间隔测量。合规性判定手册可从制造商网站下载。请访问制造商网站了解详情。应用
部件号:IM3570(含校准证书):5一体机部件号:64-3412-80-70