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ACCRETECH用于轮廓测量的高刚性触针（通用偏移测量）东京精密DM83530

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ACCRETECH用于轮廓测量的高刚性触...

ACCRETECH用于轮廓测量的高刚性触针（通用偏移测量）东京精密DM83529

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ACCRETECH用于轮廓测量的高刚性触...

ACCRETECH用于轮廓测量的高刚性触针（通用偏移测量）东京精密DM83528

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ACCRETECH臂（用于测量长物体）东京精密010 2808

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ACCRETECH可互换的粗糙度和形状测量探头（尖端半径 2μm）（深槽角）东京精密DM43827

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ACCRETECH用于轮廓测量（小孔测量）的高刚性触针东京精密DM83524

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ACCRETECH用于轮廓测量（小孔测量...

ACCRETECH用于轮廓测量（小孔测量）的高刚性触针东京精密DM83523

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ACCRETECH用于轮廓测量（小孔测量...

ACCRETECH用于轮廓测量（小孔测量）的高刚性触针东京精密DM83522

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ACCRETECH用于轮廓测量（小孔测量...

ACCRETECH鼻托（孔深测量）东京精密010 2723

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ACCRETECHRONDCOM 71C/72A/75GB/R76A 系统机架东京精密E-DK-S24A

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ACCRETECH可互换的粗糙度和形状测量探头（尖端半径 5 μm）（用于通用测量）东京精密010 2501

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ACCRETECH可互换的粗糙度和形状测...

ACCRETECH可互换的粗糙度和形状测量探头（尖端半径 5μm）（用于测量边角和齿面）东京精密010 2514

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